產(chǎn)品型號(hào)
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產(chǎn)品分類(lèi)
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v 探針臺(tái)主要應(yīng)用于晶圓、芯片、器件、封裝等半導(dǎo)體制程測(cè)試環(huán)節(jié)
v 樣品尺寸：碎片~12英寸
v 自動(dòng)化：手動(dòng)、半自動(dòng)、全自動(dòng)
v 測(cè)試環(huán)境：高低溫、磁場(chǎng)、真空
v 探針臺(tái)類(lèi)型：分析探針臺(tái)、直流、射頻、高壓、毫米波、太赫茲、硅光測(cè)量、芯片級(jí)測(cè)量、定制化等
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